RecommendMail Facebook Twitter Google Plus

コンピューター生成ホログラムを使用した光学機器の個々の干渉試験

Jenoptik のコンピューター生成ホログラムは、光学機器の干渉試験に使用され、その計測設定はお客様固有の要件に合わせて精密にカスタマイズされます。

コンピュータ生成ホログラム (CGH) の測定ステーション

Jenoptik は高速かつ効率的なマイクロリソグラフィー工程を行ってコンピュータ生成ホログラム (CGH) を製造しています。お客様のニーズに合わせてカスタマイズされた試験のセットアップをご用意します。非球面レンズの干渉試験も実施することができます。

CGH は干渉計の波面を非球面波面に変換します。これにより、フィゾー干渉計を用いた試験の選択肢が増え、非球面、円筒形、自由な形状の試験を実施できるようになります。

CGH は統合調節機能を使用して干渉計の内部に配置します。CGH は基準レンズと測定したい対象物の間に配置します。距離は測定システムの最大解像度を使用できるように自由に決めることができます。CGH を最適な位置に配置すれば、反射はほぼ完全に除去されます。

特殊基板は当社の CGH のために特別に準備されています。そのため、すぐれた測定精度と品質が得られます。コンピュータ生成ホログラムは時間が経っても劣化することがなく、高い精度と再現性を維持しながら高速かつ高解像度の測定を行うことができます。つまり、CGH は光学表面の測定と補正に理想的なツールなのです。使いやすい CGH は,量産レンズの製造プロセスにも使用できます。

メリット

  • 顧客別対応:お客様固有の要件に合わせた個別の CGH
  • 最適化:干渉試験に完全に合わせた測定セットアップ
  • 精度:干渉計の位置に正確に合わせられるホログラム
  • 効率性:標準生産プロセスでホログラムをスピーディに生成
  • 専門知識:Jenoptik のエキスパートがいつでもサポート・アドバイス

応用分野

  • 精度測定:非球面レンズなどの光学機器の干渉試験

コンピュータ生成ホログラムに基づく測定の試験セットアップ

個別調整の試験セットアップにより、非球面や円筒形表面の干渉試験が可能です。それぞれのカスタマイズ用途に必要な試験セットアップは、個別の相談サービスによって事前に決めておく必要があります。

試験セットアップ 1 では、凸面サンプルの干渉試験を行うことができます。

コンピュータ生成ホログラム:セットアップ 1 では、凸面サンプルの干渉試験が可能
個別のコンピュータ生成ホログラムを使用することにより、収束する試験波が生成され、試験酸プロの正確な測定が可能に

試験セットアップ 2 では、凹面サンプルの干渉試験を行うことができます。

CGH セットアップ 2 では、凹面サンプルの干渉試験が可能
CGH の焦点外構成では、サンプルの正確な測定を行う発散測定波が生成されます。

試験セットアップ 3 でも、凹面サンプルの干渉試験を行うことができます。

CGH 試験セットアップ 3 でも、凹面サンプルの干渉試験が可能
CGH 構成は焦点内で発散測定波を生成します。
この試験セットアップのメリットは、直径の大きい部品の試験が可能な点です。


Product recommendations

ご質問はございますか?弊社のエキスパートが喜んで対応いたします。

+81 045-345-0003

+81 045-345-0013

Sales Microoptics

+49 3641 65-2442

+49 3641 65-2443

Optics & Optical Systems

+1 561 881 7400

個人情報

Salutation

お問い合わせ

* = 必須欄です。ご記入ください。